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検査・テストマシン, 半導体製造

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欠陥検査装置(マイクロフォーカスX線装置)

Nordson DAGE

XD7600NT

2011

試料ステージ： 20" x 17.5" (508 x 444mm)　 最大検査エリア： 18" x 16" (458 x 407 mm)　 測定…

    山梨県(Yamanashi)

    アスカインデックス

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    ウエハー検査顕微鏡

    ニコン

    OPTIPHOT200/NWL-851

    ＜OPTIPHOT200 顕微鏡本体部＞ ・対物レンズ：CF Plan5× BD NA0.135/ 10×BD NA0.30/ 50×BD NA0…

      熊本県(Kumamoto)

      東京エンジ

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