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検査・テストマシン, 半導体製造
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検索結果： 4 件 1 ～ 4 件を表示
| 画像元の並び順へ | 機械名並び替え | メーカー並び替え | 型式並び替え | 年式新｜古 | 主仕様 | 価格安｜高 | 在庫場所並び替え | 会社名 | お問い合わせ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | Axometrics | AxoScan | 2019 | 高速測定で試料のミュラーマトリクスを実測し、試料の光学特性を導き出す 架台付き光学実験台：HA-2012-150L（シグマ光機） | 2,310,000 | ||||
 | Nordson DAGE | XD7600NT | 2011 | 試料ステージ： 20" x 17.5" (508 x 444mm) 最大検査エリア： 18" x 16" (458 x 407 mm) 測定… | |||||
 | ニコン | OPTIPHOT200/NWL-851 | ＜OPTIPHOT200 顕微鏡本体部＞ ・対物レンズ：CF Plan5× BD NA0.135/ 10×BD NA0.30/ 50×BD NA0… | ||||||
 | 東朋テクノロジー | FP-20B | 半導体ウエハ・厚膜ヘッド ・精密に加工された表等の粗さ・うねり・段差測定装置 最大分解能：0.5Å | 4,950,000 |
